ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения

Название англ.: Semiconductor diodes. Measurement method of breakdown voltage

Содержание госта: Настоящий стандарт распространяется на полупроводниковые диоды и устанавливает метод измерения пробивного напряжения


ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения (фото 1 из 3)
ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения (фото 2 из 3)
ГОСТ 18986.24-83 Диоды полупроводниковые. Метод измерения пробивного напряжения (фото 3 из 3)

Похожие документы

  • ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
  • ГОСТ Р МЭК 61676-2006 Медицинское электрическое оборудование. Дозиметрические приборы, используемые для неинвазивного измерения напряжения на рентгеновской трубке в диагностической радиологии
  • ГОСТ 8.275-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений средней мощности лазерного излучения и энергии импульсного лазерного излучения в диапазоне длин волн от 0,3 до 12,0 мкм
  • ГОСТ ИСО 8573-3-2006 Сжатый воздух. Часть 3. Методы контроля влажности
  • ГОСТ 8.063-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений твердости металлов и сплавов по шкалам Виккерса
  • ГОСТ 8.018-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений температурного коэффициента линейного расширения твердых тел в диапазоне температуры от 90 до 1800 К