ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей

Название англ.: Semiconductor silicon and quartz. Method of impurities determination

Содержание госта: Настоящий стандарт устанавливает нейтронно-активационный метод определения примесей в нелегированном полупроводниковом кремнии и кварце.
Метод не распространяется для анализа кремния марок КЭС-0,01 и КЭМ-0,01


ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 1 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 2 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 3 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 4 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 5 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 6 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 7 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 8 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 9 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 10 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 11 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 12 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 13 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 14 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 15 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 16 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 17 из 18)
ГОСТ 26239.5-84 Кремний полупроводниковый и кварц. Метод определения примесей (фото 18 из 18)

Похожие документы

  • ГОСТ Р 8.628-2007 Государственная система обеспечения единства измерений. Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления
  • ГОСТ 18986.3-73 Диоды полупроводниковые. Метод измерения постоянного прямого напряжения и постоянного прямого тока
  • ГОСТ 27707-2007 Огнеупоры неформованные. Методы определения зернового состава
  • ГОСТ Р 52695-2006 Судостроение. Иллюминаторы круглые. Расположение
  • ГОСТ 16868-71 Концы шпинделей резьбовые. Размеры
  • ГОСТ Р 52645-2006 Гайки высокопрочные шестигранные с увеличенным размером под ключ для металлических конструкций. Технические условия